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Détail du Microscope à Force Atomique de Phoenix. On voit sur cette image les tiges de silicone qui composent le microscope, chaque tige étant pourvue à son extrémité d'une minuscule pointe qui parcourt la surface de l'échantillon. La variation de la hauteur de cette pointe fournit une carte 3D de l'échantillon analysé. L'échelle en bas à gauche montre à quel point cet instrument est précis : il peut fournir des détails de l'ordre de 100 nm (environ un millième de l'épaisseur d'un cheveu).

Author : NASA/JPL-Caltech/University of Arizona/Texas A&M University

Categories : On s'est posé sur Mars ! / Phoenix : l'atterrisseur nordique
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